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La microscopie à force atomique (AFM) est une technique d’imagerie utilisée pour étudier la surface des matériaux à l’échelle nanométrique. Il s’agit d’un type de microscopie à sonde à balayage (SPM) utilisé pour mesurer les propriétés de surface telles que la topographie et l’adhérence. L’AFM est un outil puissant pour l’imagerie et la mesure des … Read more